การวิเคราะห์โดยสรุปเกี่ยวกับหลักการและการประยุกต์ใช้ DIC ในกล้องจุลทรรศน์ทางโลหะวิทยา
เมื่อทุกคนทำการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา จะมีวิธีการสังเกตที่เรียกว่าวิธีความแตกต่างการรบกวนแบบดิฟเฟอเรนเชียล หรือที่เรียกว่าวิธีการสังเกต DIC นี่เป็นวิธีการที่ค่อนข้างขั้นสูงซึ่งปัจจุบันใช้ในอุปกรณ์แบรนด์ต่างประเทศเท่านั้น หลักการเฉพาะมีดังนี้: แนะนำมัน.
ส่วนประกอบที่จำเป็นสำหรับกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา: โพลาไรเซอร์ เครื่องวิเคราะห์ ชิป DIC สัญญาณรบกวนเชิงอนุพันธ์ (ทำจากหินน้ำแข็ง)
โพลาไรเซอร์และเครื่องวิเคราะห์เป็นส่วนประกอบพื้นฐานที่ขาดไม่ได้ในการสังเกตแสงโพลาไรซ์มุมตั้งฉากของตัวอย่างโลหะวิทยา พวกมันประกอบกันในชุดประกอบการส่องสว่างสนามสว่าง/มืด และยังเป็นส่วนประกอบที่ขาดไม่ได้สำหรับวิธีคอนทราสต์การรบกวนแบบดิฟเฟอเรนเชียล โพลาไรเซอร์ของกล้องจุลทรรศน์โลหะจะเปลี่ยนแหล่งกำเนิดแสงเป็นแสงโพลาไรซ์เชิงเส้นที่สั่นสะเทือนในทิศทางตะวันออก-ตะวันตก เครื่องวิเคราะห์สามารถรบกวนแสงที่ต่อเนื่องกันซึ่งตรงตามเงื่อนไขการรบกวนได้
แผ่น DIC ที่มีการรบกวนแบบดิฟเฟอเรนเชียลของกล้องจุลทรรศน์โลหะเป็นองค์ประกอบหลักของวิธีคอนทราสต์ที่มีการรบกวนแบบดิฟเฟอเรนเชียล ความหนาของมันเปลี่ยนแปลงเล็กน้อย ทำให้เกิดการเปลี่ยนแปลงเล็กน้อยในเส้นทางแสงหรือความแตกต่างของเส้นทางแสง และสร้างเอฟเฟกต์คอนทราสต์การรบกวนที่ชัดเจน
การประยุกต์ใช้แผ่น DIC ที่มีการรบกวนแบบดิฟเฟอเรนเชียลในกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา:
สังเกตอนุภาค รอยแตก รู และส่วนนูนบนพื้นผิวของวัตถุซึ่งปรากฏนูนออกมา และคุณสามารถตัดสินใจได้อย่างถูกต้อง
ความต้องการพื้นผิวของชิ้นงานบางชิ้นลดลง ตราบใดที่การขัดเงาไม่ต้องการการกัดกร่อน ก็สามารถเห็นการบรรเทาการเปลี่ยนแปลงเฟสของมาร์เทนไซต์ได้
สังเกตการเปลี่ยนแปลงของอนุภาคบนพื้นผิว เช่น การสังเกตไอออนที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้า เป็นต้น
จากคำอธิบายข้างต้น ฉันเชื่อว่าทุกคนมีความเข้าใจเกี่ยวกับหลักการและการประยุกต์ใช้แผ่น DIC ที่มีการรบกวนแบบดิฟเฟอเรนเชียลในกล้องจุลทรรศน์ทางโลหะวิทยา
