การใช้กล้องจุลทรรศน์โพลาไรซ์ในการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา:
1, การสะท้อนแสงโพลาไรซ์บนพื้นผิวการบดโลหะแบบแอนไอโซทรอปิก
การสังเกตผลึกแอนไอโซทรอปิกภายใต้แสงโพลาไรซ์แบบตั้งฉาก เนื่องจากการวางแนวที่แตกต่างกันของแต่ละเกรนในพื้นผิวการบดทางโลหะวิทยาของโลหะแอนไอโซทรอปิกเชิงแสง กล่าวคือ ตำแหน่งที่แตกต่างกันของ "แกนแสง" ของแต่ละเกรน ระนาบโพลาไรเซชันของแสงโพลาไรซ์ที่สะท้อนในแต่ละเกรนจะหมุนในมุมที่ต่างกัน ด้วยการใช้กล้องจุลทรรศน์โพลาไรซ์ คุณสามารถสังเกตความเปรียบต่างของเกรนที่มีความสว่างต่างกันในช่องมองภาพได้ การหมุนพื้นที่งานเทียบเท่ากับการเปลี่ยนมุมระหว่างทิศทางโพลาไรเซชันและแกนออปติคัล หมุนเวที 360 องศา และสังเกตการเปลี่ยนแปลงด้านการมองเห็นที่สว่างและมืดสี่ครั้ง นี่คือผลโพลาไรเซชันของผลึกแอนไอโซทรอปิกภายใต้แสงโพลาไรซ์มุมฉาก
2, การสะท้อนแสงโพลาไรซ์บนพื้นผิวการบดโลหะไอโซโทรปิก
เมื่อสังเกตโลหะไอโซโทรปิกภายใต้แสงโพลาไรซ์แบบตั้งฉาก เนื่องจากคุณสมบัติทางแสงที่สอดคล้องกันในทุกทิศทาง ระนาบโพลาไรซ์ของแสงที่สะท้อนจึงไม่สามารถหมุนได้ แสงโพลาไรซ์เชิงเส้นจะตกกระทบในแนวตั้งบนพื้นผิวเจียรโลหะไอโซโทรปิก และเนื่องจากแสงที่สะท้อนยังคงเป็นโพลาไรซ์เชิงเส้น จึงถูกปิดกั้นโดยกระจกโพลาไรซ์แบบตั้งฉาก ดังนั้นแสงโพลาไรซ์ที่สะท้อนกลับไม่สามารถผ่านกระจกโพลาไรซ์ได้ และขอบเขตการมองเห็นมืด ทำให้เกิดปรากฏการณ์การสูญพันธุ์ แท่นโหลดแบบหมุนยังไม่มีการเปลี่ยนแปลงความสว่าง นี่คือปรากฏการณ์ของโลหะไอโซโทรปิกภายใต้โพลาไรเซชันตั้งฉาก หากศึกษาโลหะไอโซโทรปิกภายใต้โพลาไรเซชันแบบตั้งฉาก จำเป็นต้องใช้วิธีพิเศษในการเปลี่ยนคุณสมบัติทางแสงของคริสตัลดั้งเดิม วิธีการที่ใช้กันทั่วไป ได้แก่ การกัดลึกหรือการชุบผิวด้วยอโนไดซ์ ตัวอย่างเช่น บางคนใช้การกัดลึกเพื่อสังเกตเข็ม เช่น มาร์เทนไซต์และเมล็ดออสเทนไนต์ดั้งเดิมในเหล็กกล้าโครเมียมนิกเกิลคาร์บอนสูง บางคนใช้วิธีนี้เพื่อสังเกตมาร์เทนไซต์ เบนไนต์ มาร์เทนไซต์คาร์บอนต่ำ และสาขาอื่นๆ
3 การวิเคราะห์โพลาไรเซชันของการรวมอโลหะ
การระบุสิ่งเจือปนที่ไม่ใช่โลหะที่ถูกต้องมักต้องใช้วิธีการตรวจจับหลายวิธีเพื่อให้ได้ผลการวินิจฉัยที่แม่นยำ ในหมู่พวกเขา วิธีการทางโลหะวิทยาเป็นแนวทางที่ค่อนข้างง่ายและใช้กันทั่วไป ซึ่งครองตำแหน่งที่สำคัญ โดยปกติแล้ว คุณสมบัติทางแสงจะถูกวิเคราะห์ภายใต้กล้องจุลทรรศน์โพลาไรซ์โดยใช้สนามแสงที่สว่าง มืด และโพลาไรซ์
