+86-18822802390

ติดต่อเรา

  • โทรศัพท์: +8618822802390

  • อีเมล:admin@gvda-instrument.com

  • วอตส์แอปป์: 8618822802390

  • เพิ่ม: ห้อง 610-612 อาคารธุรกิจ Huachuangda เขต 46 ถนน Cuizhu ถนน Xin'an Bao'an เซินเจิ้น

การเชื่อมต่อของ AFM และกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบกลับหัว

Apr 27, 2024

การเชื่อมต่อของ AFM และกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบกลับหัว

 

กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบกลับหัวควบคู่กับการถ่ายภาพ AFM มอบโอกาสพิเศษสำหรับข้อมูลเชิงแสง (เช่น อัตราส่วนสัมพัทธ์หรือข้อมูลเรืองแสง) ที่จะนำมารวมกับภาพทางสัณฐานวิทยาที่มีความละเอียดสูงและข้อมูลทางกลที่มีเพียง AFM เท่านั้นที่สามารถให้ได้


เนื่องจากโครงสร้างการออกแบบเส้นทางแสงแบบเปิดของ FlexAFM แสงจึงสามารถผ่าน FlexAFM ได้โดยแทบไม่มีสิ่งกีดขวาง และการออกแบบออปติคอล SureAlign™ พิเศษของ SA ที่ยึดแขนยื่นได้ทำให้การใช้งาน FlexAFM ในสภาพแวดล้อมการทดสอบของเหลวง่ายและสะดวกโดยไม่จำเป็นต้องใช้เลเซอร์ การจัดตำแหน่ง เมื่อใช้ร่วมกับตัวเลือกกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบกลับหัว FlexAFM จึงกลายเป็นอุปกรณ์ในอุดมคติสำหรับการถ่ายภาพและระบุลักษณะเซลล์ในสภาพแวดล้อมทางสรีรวิทยา ในตัวอย่างนี้ มีการถ่ายภาพไฟโบรบลาสต์ของ Rat-2 ที่ยังมีชีวิตอยู่


การใช้งาน FlexAFM ร่วมกับกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบกลับด้านไม่ได้จำกัดอยู่เพียงด้านวิทยาศาสตร์เพื่อชีวิตเท่านั้น ตัวอย่างด้านล่างนี้แสดงไว้ โดยมีตัวอย่างกระจกเคลือบที่ได้รับการวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงและ AFM AFM ให้ข้อมูลที่มีความละเอียดสูงกว่าในพื้นที่ที่สังเกตและอธิบายลักษณะของโครงสร้างที่เห็นในกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง นอกจากนี้ยังสามารถใช้เพื่อกำหนดความหนาของชั้นเคลือบได้อีกด้วย


รูปภาพของเซลล์ PiD: (ซ้าย) ภาพเปรียบเทียบสัมพัทธ์ของกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบกลับหัวผ่านอุปกรณ์ FlexAFM และตัวเลือกกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบกลับหัว ซึ่งแสดงเซลล์ fibroprogenitor ของหนู-2 และแขนจี้ AFM ในอาหารเลี้ยงเซลล์ (ขวา) ภาพ AFM ของเซลล์ภายใต้อุปกรณ์เดียวกัน แสดงรายละเอียดของโครงร่างโครงร่างเซลล์ของหนู-2 ซึ่งมองเห็นได้ง่ายผ่านเยื่อหุ้มเซลล์ของเซลล์เหล่านี้ ขนาดภาพ AFM: 70 μm × 60 μm


อัตราส่วนสัมพัทธ์ของกระจกเคลือบ (ด้านบน) และภาพ AFM (ด้านล่าง) สิ่งที่สังเกตได้ในกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงนั้นมีโครงสร้างที่มีพื้นผิวคล้ายกัน (เช่น ภายในเป็นรูปวงรี) ซึ่งสอดคล้องกับรูในสารเคลือบ ดังตัวอย่างจากการวัด AFM โดยมีวิธี ** ในการกำหนดความหนาของการเคลือบ ซึ่งในตัวอย่างนี้เท่ากับ 40 นาโนเมตร ขนาดภาพ AFM: 90 μm × 35 μm

 

4 Microscope

ส่งคำถาม