ความแตกต่าง ใน การประยุกต์ใช้ ระหว่าง ตั้งตรง และ กลับหัว โลหะ กล้องจุลทรรศน์

ความแตกต่าง ใน การประยุกต์ใช้ ระหว่าง ตั้งตรง และ กลับหัว โลหะ กล้องจุลทรรศน์

ความแตกต่าง ระหว่าง ตั้งตรง และ กลับหัว คือ ง่ายๆ ที่ the ตั้งตรง ตัวอย่าง คือ วาง ด้านล่าง และ the inverted sample is placed above. The upright objective is facing downwards, and the inverted objective is facing upwards.

กลับหัว โลหะ กล้องจุลทรรศน์% 2c เนื่องจาก ความจริง ที่ การสังเกต พื้นผิว ของ ตัวอย่าง coincides กับ พื้นผิว ของ โต๊ะทํางาน 2c และ การสังเกต วัตถุประสงค์ ตั้งอยู่ ด้านล่าง the workbench สําหรับ ขึ้น สังเกตการณ์% 2c นี้ การสังเกต แบบฟอร์ม เป็น ไม่ จํากัด โดย ความสูง ของ ตัวอย่าง เมื่อ เตรียม ตัวอย่าง 2c เพียง หนึ่ง การสังเกต พื้นผิว is แบน% 2c so it เป็น ใช้ ใน โรงงาน ห้องปฏิบัติการ% 2c วิทยาศาสตร์ การวิจัย สถาบัน% 2c และ มหาวิทยาลัย สําหรับ การสอน ฐาน ของ กลับหัว โลหะ กล้องจุลทรรศน์ มี a ขนาดใหญ่ สนับสนุน พื้นที่% 2c a ต่ํา ศูนย์ ของ แรงโน้มถ่วง% 2c และ เป็น มั่นคง และ เชื่อถือได้ ช่องมองภาพ และ สนับสนุน พื้นผิว เอียง ที่ 45 องศา % 2c ทําให้ การสังเกต สะดวกสบาย

% 0aThe ตั้งตรง metallographic microscope has the same basic functions as the inverted metallographic microscope. In addition to analyzing and identifying metal samples with a height of 20-30mm, it is more widely used in transparent, semi transparent, or opaque materials because it conforms to human daily habits. An upright metallographic microscope forms a positive image during observation, which brated great convenience to the ผู้ใช้% 27s การสังเกต และ การเลือกปฏิบัติ ใน เพิ่ม วิเคราะห์ และ ระบุ โลหะ ตัวอย่าง a ความสูง ของ % 7b% 7b1% 7d% 7dmm% 2c การสังเกต เป้าหมาย ใหญ่กว่า 3 ไมครอน แต่ เล็ก กว่า 20 ไมครอน% 2c เช่น พื้นผิว โครงสร้าง และ ร่องรอย ของ วัสดุ เช่น AS cermets% 2c อิเล็กทรอนิกส์ ชิป% 2c พิมพ์ วงจร% 2c LCD พื้นผิว% 2c บาง ฟิล์ม% 2c เส้นใย % 2c เม็ด วัตถุ 2c เคลือบ% 2c ฯลฯ % 2c สามารถ ทั้งหมด มี ดี imaging ผลกระทบ