วิธีใช้มัลติมิเตอร์ทดสอบชิปหน่วยความจำและการ์ดหน่วยความจำ

วิธีใช้มัลติมิเตอร์ทดสอบชิปหน่วยความจำและการ์ดหน่วยความจำ

มีพินข้อมูล 64 พินบนเมนบอร์ดและหน่วยความจำ D0-D63 เพื่อปกป้องพินข้อมูลของหน่วยความจำ ตัวต้านทาน (10 โอห์ม) ที่มีค่าความต้านทานต่างกันจะถูกเพิ่มเข้ากับพินข้อมูล 64 พิน D0-D63 เพื่อจำกัดกระแส ผล. หลักการสำคัญของผู้ทดสอบคือการใช้โปรแกรมเพื่อทดสอบพินข้อมูลแต่ละบิตของชิปหน่วยความจำซ้ำ ๆ เพื่อดูว่ามีพินบิตข้อมูลเสียหายหรือลัดวงจรหรือไม่ รวมถึงพินนาฬิกาและพินที่อยู่ของชิป

ดังนั้นเมื่อใช้มัลติมิเตอร์ทดสอบชิปคุณสามารถใช้วิธีทดสอบได้เช่นกัน ตราบใดที่ปากกาสีแดงเชื่อมต่อกับกราวด์ (พิน 1) และปากกาสีดำวัดความต้านทานของตัวต้านทานการเดรน จะเป็นค่าความต้านทานของบิตข้อมูลของชิปหน่วยความจำเพื่อพิจารณาว่าชิปตัวใดเสียหาย โดยปกติแล้วค่าความต้านทานของแต่ละบิตข้อมูลจะเท่ากัน แต่ก็ยังไม่สัญชาตญาณเท่าผู้ทดสอบ วิธีนี้สามารถวัดคุณภาพของชิปหน่วยความจำ DDR

ตามคู่มือการใช้งาน หน่วยความจำที่วัดได้อยู่ที่ 2A และ 2B ซึ่งหมายถึงกลุ่มเดี่ยวและกลุ่มคู่ แต่ชิปบิต 16- มี 8 ชิป ซึ่งเทียบเท่ากับสองกลุ่ม และชิปบิต 8- มี 16 ชิป ซึ่งเทียบเท่ากับสองกลุ่ม

2A เป็นกลุ่มแรก และ 2B เป็นกลุ่มที่สอง

ในระหว่างการวัด พินข้อมูลของชิปแต่ละตัวในแต่ละกลุ่มจะถูกทดสอบแบบวนรอบ โดยทั่วไป หากได้รับการทดสอบ 3-5 ครั้ง และไม่เสียหาย ถือว่าดี ชิปที่ดีคือ: PASS ชิปที่ไม่ดีจะแสดงพินบิตข้อมูลที่ไม่ดี

1. หากการทดสอบล้มเหลวเมื่อเปิดคอมพิวเตอร์ มักมี: การลัดวงจรของชิปหรือการลัดวงจรของบอร์ด PCB วิธีแก้ไขคือการถอดชิปออกแล้วแทนที่บนบอร์ด PCB ที่ดีเพื่อทดสอบคุณภาพของชิปเพื่อดูว่าปัญหาคืออะไร

2. เครื่องทดสอบหน่วยความจำไม่ได้ทดสอบชิป SPD ชิป SPD สามารถจ่ายได้

3.หากนิ้วทองไหม้จะไม่สามารถทดสอบได้ ต้องถอดชิปออกและเปลี่ยนบนบอร์ด PCB ที่ดีเพื่อทดสอบคุณภาพของชิป