ขอแนะนำกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบอัตโนมัติอย่างที่ไม่เคยมีมาก่อน
ระบบกล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณูอัตโนมัติ NX-3DM ที่เปิดตัวโดย Park Systems ได้รับการออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับรูปร่างระยะยื่น การถ่ายภาพผนังด้านข้างความละเอียดสูง และการวัดมุมวิกฤต ด้วยระบบการสแกนแกน XY และแกน Z ที่ไม่เหมือนใครและเครื่องสแกนแกน Z ที่ปรับเอียงได้ NX-3DM สามารถเอาชนะความท้าทายที่เกิดจากหัวปกติและหัวบานในการวิเคราะห์แก้มยางที่แม่นยำได้สำเร็จ ในโหมด True Non-Contact™ NX-3DM เปิดใช้งานการวัดแบบไม่ทำลายของช่างภาพที่นุ่มนวลด้วยเคล็ดลับอัตราส่วนภาพสูง
แม่นยำเป็นประวัติการณ์
เมื่อเซมิคอนดักเตอร์มีขนาดเล็กลง การออกแบบจึงต้องอยู่ในระดับนาโน แต่เครื่องมือวัดแบบดั้งเดิมไม่สามารถให้ความแม่นยำที่จำเป็นสำหรับการออกแบบและการผลิตระดับนาโนได้ เมื่อเผชิญกับความท้าทายในการวัดในอุตสาหกรรมนี้ Park AFM ได้สร้างความก้าวหน้าทางเทคโนโลยีมากมาย เช่น การกำจัดสัญญาณรบกวน ซึ่งทำให้ได้ภาพที่ปราศจากสิ่งแปลกปลอมและไม่ทำลาย 3D AFM ใหม่ทำให้สามารถถ่ายภาพความละเอียดสูงของแก้มยางและคุณลักษณะด้านล่างได้
ปริมาณงานที่ไม่เคยมีมาก่อน
เนื่องจากข้อจำกัดของทรูพุตที่ต่ำ การออกแบบระดับนาโนจึงไม่สามารถใช้ในการควบคุมคุณภาพการผลิตได้ แต่กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมทำให้เป็นไปได้ ด้วยโซลูชันความเร็วสูงที่เผยแพร่โดย Park Systems กล้องจุลทรรศน์แบบแรงอะตอมได้เข้าสู่การผลิตออนไลน์แบบอัตโนมัติ ซึ่งรวมถึงคุณสมบัติการเปลี่ยนโพรบแม่เหล็กที่เป็นนวัตกรรมใหม่ที่มีอัตราความสำเร็จ 99 เปอร์เซ็นต์ ซึ่งสูงกว่าเทคโนโลยีสุญญากาศทั่วไป นอกจากนี้ การเพิ่มประสิทธิภาพกระบวนการและปริมาณงานจำเป็นต้องอาศัยความร่วมมืออย่างแข็งขันของลูกค้าเพื่อให้ข้อมูลดิบที่สมบูรณ์
คุ้มค่าอย่างไม่เคยมีมาก่อน
การวัดระดับนาโนที่มีความแม่นยำและปริมาณงานสูงจำเป็นต้องจับคู่กับโซลูชันที่คุ้มค่าเพื่อปรับขนาดตั้งแต่การวิจัยไปจนถึงการใช้งานการผลิตในโลกแห่งความเป็นจริง เมื่อเผชิญกับความท้าทายด้านต้นทุน Park Systems ได้นำโซลูชันกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมระดับอุตสาหกรรมมาใช้ในการตรวจวัดแบบอัตโนมัติได้รวดเร็วและมีประสิทธิภาพมากขึ้น และทำให้โพรบมีความทนทานมากขึ้น! เราได้เลิกใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดที่ช้าและมีราคาแพง และเปลี่ยนมาใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 3 มิติที่มีประสิทธิภาพ อัตโนมัติ และราคาย่อมเยา เพื่อลดต้นทุนการวัดของการผลิตทางอุตสาหกรรมออนไลน์ ทุกวันนี้ ผู้ผลิตต้องการข้อมูล 3 มิติเพื่อระบุลักษณะของร่องลึกและแก้มยางที่แตกต่างกัน เพื่อหาจุดบกพร่องในการออกแบบใหม่ได้อย่างแม่นยำ แพลตฟอร์ม AFM แบบโมดูลาร์ช่วยให้เปลี่ยนฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์ได้อย่างรวดเร็ว ทำให้การอัปเกรดประหยัดต้นทุนมากขึ้น และเพิ่มประสิทธิภาพการวัดการควบคุมคุณภาพการผลิตที่ซับซ้อนและมีความต้องการอย่างต่อเนื่อง นอกจากนี้ โพรบ AFM ของเรามีอายุการใช้งานยาวนานขึ้นอย่างน้อย 2 เท่า ซึ่งช่วยลดต้นทุนในการเป็นเจ้าของ AFM แบบดั้งเดิมใช้การสแกนด้วยการแตะ ซึ่งทำให้ทิปมีแนวโน้มที่จะสึกหรอได้ง่าย แต่โหมด True Non-Contact™ ของเราสามารถปกป้องทิปได้อย่างมีประสิทธิภาพและยืดอายุการใช้งาน
