การสแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์ แนวคิด% 2c หลักการ% 2c โครงสร้าง% 2c และ ลักษณะ
การสแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์ คือ A ทั่วไป ระยะ สําหรับ หลากหลาย ใหม่ โพรบ กล้องจุลทรรศน์ (อะตอม แรง กล้องจุลทรรศน์% 2C ไฟฟ้าสถิต แรง กล้องจุลทรรศน์% 2C แรงแม่เหล็ก กล้องจุลทรรศน์% 2C การสแกน การนําไฟฟ้า กล้องจุลทรรศน์% 2C การสแกน ไฟฟ้าเคมี กล้องจุลทรรศน์% 2C ฯลฯ ) พัฒนา บน พื้นฐาน ของ สแกน อุโมงค์ กล้องจุลทรรศน์ พัฒนา พื้นผิว การวิเคราะห์ เครื่องมือ
% 0aThe basic working principle of the scanning probe microscope is to use the interaction between the probe and the surface atoms and molecules of the sample % 2c that is% 2c the physical fields of various interactions formed when the probe and the sample surface are close to the nanoscale% 2c และ obtained by detecting the corresponding physical quantities Sample surface morphology การสแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์ เป็น ส่วนใหญ่ ประกอบด้วย ห้า ชิ้นส่วน% 3a โพรบ% 2c สแกนเนอร์% 2c การกระจัด เซ็นเซอร์% 2c ตัวควบคุม% 2c การตรวจจับ ระบบ และ ภาพ ระบบ
% 0aThe controller moves the sample in the vertical direction through the scanner so that the distance between the probe and the sample (หรือ the physical quantity of interaction) is stabilized at a fixed value% 3b at the same time% 2c the sample is moved in x - y horizontal plane so that the probe follows the scanning The path scans the sample surface ใน สแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์, เมื่อ the distance between the probe and the sample is stable, the detection system detects the relevant physical quantity signal of the interaction between the probe and the sample; when the physical quantity of the interaction is stable, it is detected by the displacement sensor through the vertical direction The distance between the probe and the sample. ภาพ ระบบ ดําเนินการ ภาพ การประมวลผล เช่น การถ่ายภาพ บน พื้นผิว ของ ตัวอย่าง ตาม การตรวจจับ สัญญาณ (หรือ ระยะทาง ระหว่าง โพรบ และ ตัวอย่าง ) )
% 0a การสแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์ ถูก แบ่ง เป็น แตกต่างกัน ชุด ของ กล้องจุลทรรศน์ ตาม ที่แตกต่างกัน ทางกายภาพ ฟิลด์ ของ ปฏิสัมพันธ์ ระหว่าง โพรบ และ ตัวอย่าง ในหมู่ พวกเขา% 2c สแกน อุโมงค์ กล้องจุลทรรศน์ (STM) และ อะตอม แรง กล้องจุลทรรศน์ (AFM) เป็น สอง ประเภท ของ สแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์ ที่ เป็น เพิ่มเติม ทั่วไป ใช้ สแกน อุโมงค์ ตรวจจับ พื้นผิว โครงสร้าง ของ ตัวอย่าง โดย ตรวจจับ ขนาด ของ อุโมงค์ ปัจจุบัน ระหว่าง โพรบ และ ตัวอย่าง ถึง เป็น ทดสอบ อะตอม แรง กล้องจุลทรรศน์ ตรวจจับ พื้นผิว ของ ตัวอย่าง ตรวจจับ การเสียรูป ของ ไมโคร - คาน เกิดขึ้น โดย ปฏิสัมพันธ์ แรง ระหว่าง เคล็ดลับ และ ตัวอย่าง (ซึ่ง อาจ เป็น น่าสนใจ หรือ น่ารังเกียจ) โดย A ตาแมว การกระจัด เซ็นเซอร์
% 0a คุณสมบัติ ของ สแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์
% 0aScanning โพรบ กล้องจุลทรรศน์ คือ ที่สาม กล้องจุลทรรศน์ สําหรับ การสังเกต โครงสร้าง ของ สสาร อะตอม สเกล หลังจาก ฟิลด์ ไอออน กล้องจุลทรรศน์ และ ความละเอียดสูง การส่งผ่าน อิเล็กตรอน กล้องจุลทรรศน์ การ การสแกน อุโมงค์ กล้องจุลทรรศน์ (STM) เป็น an ตัวอย่าง 2c its ด้านข้าง ความละเอียด คือ % 7b% 7b1% 7d% 7d% 7d% 7d% 7d.1% 7e% 7b% 7b% 7d% 7d% 7d% 7d% 7d% 7d% 7d% 7d สังเกต เดี่ยว อะตอม หรือ โมเลกุล กระจาย บน พื้นผิว ของ ตัวอย่าง ที่ เดียวกัน เวลา% 2c สแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์ สามารถ ยัง ดําเนินการ การสังเกต การวิจัย ใน อากาศ 2c อื่น ๆ ก๊าซ หรือ ของเหลว สภาพแวดล้อม
% 0a การสแกน โพรบ กล้องจุลทรรศน์ มี ลักษณะ ของ อะตอม ความละเอียด % 2c อะตอม การขนส่ง% 2c และ นาโน microprocessing อย่างไรก็ตาม% 2c เนื่องจาก ถึง ความแตกต่าง การทํางาน หลักการ ของ ต่างๆ การสแกน กล้องจุลทรรศน์ ใน รายละเอียด% 2c ข้อมูล บน พื้นผิว ของ ตัวอย่าง สะท้อน โดย ผลลัพธ์ ได้รับ โดย พวกเขา เป็น มาก แตกต่างกัน การสแกน อุโมงค์ กล้องจุลทรรศน์ มาตรการ การกระจาย ข้อมูล ของ อิเล็กตรอน สถานี บน พื้นผิว ของ ตัวอย่าง 2c ซึ่ง มี ระดับอะตอม ความละเอียด แต่ นิ่ง ไม่สามารถ รับ the true structure of the sample. The atomic microscope detects the interaction information between atoms, so the arrangement information of the atomic distribution on the sample surface can be obtained, that is, the the structure of the sample. แต่ บน the other hand, the atomic force microscope cannot measure the electronic state information that can be compared with the theory, so the two have their own advantages and disadvantages.
