การวิเคราะห์ความล้มเหลวของกล้องจุลทรรศน์ด้วยกล้องจุลทรรศน์
ภาพซ้อนด้วยกล้องจุลทรรศน์ไม่ตรงกัน ในการสังเกตด้วยกล้องสองตา บางครั้งจะเกิดปรากฏการณ์ภาพซ้อนไม่ตรงแนว ลักษณะของภาพซ้อนที่ไม่ตรงแนวไม่สนใจการชดเชยความยาวของกระบอกเลนส์ทั้งสองที่ไม่สอดคล้องกัน กำลังขยายของเลนส์ใกล้ตาทั้งสองแตกต่างกันมาก และการสั่นสะเทือนระหว่างการใช้งานหรือการขนส่งทำให้กล้องสองตาเสียหาย ตำแหน่งของปริซึมจะเปลี่ยนไปเนื่องจากสาเหตุสามประการ ด้วยเหตุผลสองประการแรก พวกเขาได้รับการปรับเทียบและจับคู่เมื่อออกจากโรงงาน และสามารถแก้ไขได้ตราบเท่าที่คุณใส่ใจกับวิธีการและการจับคู่ระหว่างการใช้งาน
เหตุผลที่สามสำหรับกล้องจุลทรรศน์เป็นเรื่องปกติมากขึ้น ในเวลานี้ ควรเปิดเปลือกกล้องสองตา ควรวางไม้บรรทัดไขว้ไว้บนแท่น และควรใส่เลนส์สายตาแบบเรติเคิล 10X เข้าไปในกระบอกเลนส์ด้านซ้ายและขวาเพื่อการสังเกต และควรแก้ไขตำแหน่งและมุมของปริซึมกล้องสองตา . และเมื่อหมุนเลนส์ตาสองตาเพื่อสังเกตในมุมต่างๆ ตำแหน่งของเครื่องหมายกากบาทจะอยู่ที่ตำแหน่งเดียวกันในมุมมองของเลนส์ตาซ้ายและขวา จากนั้นขันให้แน่น
เมื่อสังเกตกล้องสองตาด้วยกล้องจุลทรรศน์ บางครั้งความสว่างและสีของมุมมองด้านซ้ายและด้านขวาจะไม่สอดคล้องกัน ซึ่งจะส่งผลต่อการสังเกต สาเหตุนี้เกิดจากความเสียหายของฟิล์มปริซึมของปริซึมแยกลำแสง ในเวลานี้ ควรถอดปริซึมแยกลำแสงออกและส่งไปยังผู้ผลิตกล้องจุลทรรศน์เพื่อทำการเคลือบใหม่ก่อนประกอบและใช้งาน .
ความแตกต่างระหว่างการใช้กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบตั้งขึ้นและกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบกลับด้าน
กล้องจุลทรรศน์โลหการกลับหัว เนื่องจากพื้นผิวการสังเกตของตัวอย่างตรงกับพื้นผิวของโต๊ะทำงานด้านล่าง เลนส์ใกล้วัตถุสำหรับการสังเกตจะอยู่ใต้โต๊ะทำงานและสังเกตขึ้นด้านบน แบบฟอร์มการสังเกตนี้ไม่จำกัดโดยความสูงของตัวอย่าง ตราบเท่าที่หนึ่ง พื้นผิวการสังเกตจะเรียบเมื่อเตรียมตัวอย่าง ดังนั้นจึงใช้กันอย่างแพร่หลายในห้องปฏิบัติการของโรงงาน สถาบันวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และวิทยาลัย ฐานของกล้องจุลทรรศน์โลหะกลับหัวมีพื้นที่รองรับขนาดใหญ่ จุดศูนย์ถ่วงต่ำ การทำงานที่มั่นคงและเชื่อถือได้ และช่องมองภาพและพื้นผิวรองรับเอียง 45 องศา ทำให้การสังเกตสะดวกสบาย
กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบตั้งตรงมีการทำงานพื้นฐานเช่นเดียวกับกล้องจุลทรรศน์โลหะแบบกลับด้าน ยกเว้นสำหรับการวิเคราะห์และการจำแนกตัวอย่างโลหะที่มีความสูง 20-30มม. เนื่องจากสอดคล้องกับพฤติกรรมประจำวันของผู้คน จึงมีการใช้กันอย่างแพร่หลายในวัสดุโปร่งใส , สารโปร่งแสงหรือสารทึบแสง. กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบตั้งตรงสร้างภาพเชิงบวกระหว่างการสังเกต ซึ่งช่วยให้การสังเกตและการระบุตัวตนของผู้ใช้สะดวกมาก นอกจากการวิเคราะห์และการระบุตัวอย่างโลหะที่มีความสูง 20-30มม. แล้ว เป้าหมายการสังเกตที่มีขนาดใหญ่กว่า 3 ไมครอนและน้อยกว่า 20 ไมครอน เช่น เซอร์เมต ชิปอิเล็กทรอนิกส์ วงจรพิมพ์ พื้นผิว LCD ฟิล์ม เส้นใย วัตถุที่เป็นเม็ด การเคลือบผิว และวัสดุอื่นๆ บนพื้นผิว โครงสร้างและร่องรอยสามารถให้ผลในการถ่ายภาพที่ดี
