กล้องจุลทรรศน์ Nikon: ห้า-ขั้นตอนการบำรุงรักษาระบบแสง
เดิมทีมาจากวิทยาโลหะวิทยา โดยมีวัตถุประสงค์หลักคือเป็นเครื่องมือระดับมืออาชีพในการสังเกตโครงสร้างทางโลหะวิทยา เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่ออกแบบมาโดยเฉพาะสำหรับการสังเกตโครงสร้างทางโลหะวิทยาของวัตถุทึบแสง เช่น โลหะและแร่ธาตุ วัตถุทึบแสงเหล่านี้ไม่สามารถสังเกตได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบส่องผ่านแสงแบบธรรมดา ดังนั้นความแตกต่างที่สำคัญระหว่างทองคำและกล้องจุลทรรศน์แบบธรรมดาก็คือ วัตถุแบบแรกจะส่องสว่างด้วยแสงสะท้อน ในขณะที่วัตถุแบบหลังจะส่องสว่างด้วยแสงที่ส่องผ่าน
กล้องจุลทรรศน์โลหะมีลักษณะความเสถียรที่ดี ภาพที่ชัดเจน ความละเอียดสูง และมีขอบเขตการมองเห็นที่กว้างและแบน ไม่เพียงแต่ทำการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์บนช่องมองภาพเท่านั้น แต่ยังสังเกตภาพไดนามิกแบบเรียลไทม์-บนหน้าจอคอมพิวเตอร์ (กล้องดิจิตอล) และสามารถแก้ไข บันทึก และพิมพ์ภาพที่ต้องการได้ ส่วนใหญ่จะใช้ในฮาร์ดแวร์ การหั่น ส่วนประกอบ IC, LCD/LED และสาขาอื่นๆ
เนื่องจากมีเลนส์กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาอยู่ห้าประเภท: EPI ฟลูออเรสเซนต์สนามสว่าง; BD สนามสว่างและมืด SLWD ระยะการทำงานที่ยาวนานเป็นพิเศษ ELWD เสริมสร้างระยะการทำงาน พร้อมกับวงแหวนแก้ไข ในอุตสาหกรรมฮาร์ดแวร์ ส่วนประกอบฮาร์ดแวร์บางอย่างที่มีการสะท้อนที่รุนแรงสามารถสังเกตได้โดยใช้เลนส์ BD ที่มีช่องสว่างและมืด ตัวอย่างเช่น ในอุตสาหกรรม LCD เมื่อสังเกตและวัดอนุภาคที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้า กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาสามารถจับคู่กับ DIC เพื่อทำให้วัตถุดูเป็นสามมิติมากขึ้น- เนื่องจากเป็นแบบโพลาไรซ์ ซึ่งเป็นเทคนิคการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้ฟิลเตอร์สีสองชุดเพื่อสร้างแสงโพลาไรซ์ ขึ้นอยู่กับคุณสมบัติการหักเหของแสง ทิศทางของเส้นทางแสงสามารถเปลี่ยนแปลงได้ แน่นอนว่าแสงโพลาไรซ์สามารถใช้ร่วมกับ DIC เท่านั้นและมีความสำคัญเพียงเล็กน้อยในตัวเอง กล้องจุลทรรศน์ทางโลหะวิทยาใช้สำหรับการวัดและวิเคราะห์ขนาดเล็ก เช่น ส่วนประกอบ IC และส่วนทางโลหะวิทยา สามารถวัดได้โดยใช้ซอฟต์แวร์อัจฉริยะ Iview SIMS ซึ่งมีความแม่นยำสูงและลดข้อผิดพลาดในการวัดโดยมนุษย์ได้อย่างมีประสิทธิภาพ เรียนรู้และใช้งานง่าย สามารถวัดและวิเคราะห์มิติที่เกี่ยวข้อง เช่น จุด เส้น ส่วนโค้ง เส้นเมอริเดียนกึ่ง เส้นเมอริเดียนตรง มุม ฯลฯ ได้อย่างง่ายดาย ถ่ายภาพการวัดและปรับแต่งรายงานการทดสอบต่างๆ ได้อย่างง่ายดาย
